MODEL

 D U - 6 2 1 0

 D U - 6 2 1 1

파 라 메 터

 L.C.R.Z.Q.D.ESR.θ

테 스 트 전 압

 0.1V, 0.25V, 0.3V, 0.5V, 1.00 Vrms 선택 가능 / 0.01V-2.55Vrms 프로그램 가능 / 10mV/step

주 파 수

 100Hz, 120Hz, 1K, 10K, 100KHz

 100Hz, 120Hz, 1K, 10K, 100KHz

 40Hz ~ 200KHz，30 포인트 선택

 40Hz ~ 200KHz 선택가능, 해결：1 ~ 10Hz

디 스 플 레 이

 40 x 4 액정 (LCD) 표시, 4 ½ digit

트 리 거 모 드

 Internal, External, Fuzzy（ 자동 감지 트리거 ）

측 정 범 위

 L : 0.001μH ～ 1999.9H　　　　　　　

 C : 0.001pF ～ 199.99mF

 R : 0.1mΩ ～ 19.999MΩ 　　　　　　　

 Z : 0.1mΩ ～ 199.99MΩ

 Q : 0.01 ～ 1999.9

 D : 0.0001 ~ 19.999 　　

 ESR : 0.1mΩ ～ 19.999MΩ

 θ : -180 ° + 180 °

정 확 도

 ±0.１%

측 정 속 도

Slow：400ms,  Medium：150mS Fast：75mS

기   능

Zero 점 자동설정, 자동 기어 선택

데 이 터 복 구

테스트 상태 : 테스트 파라미터, 시험전압, 시험 주파수, 테스트 회로 (직렬 / 병렬)

입 력 전 원

 115 / 230 V ±10%, 50 / 60 Hz

크   기

 360 x 110 x 350 mm

무   게

 4.8 kg

주  문  정  보

DU-6021

확장성 - 프로그램 L.C.R.Z. 시험장치 : 40Hz-200KHz ， 30 포인트 선택

DU-6022

확장성 - 프로그램 L.C.R.Z. 시험장치 : 40Hz-200KHz 프로그램 

표  준  부  속  품

Fx60-01021

 LCR 테스트 라인 

옵    션

Fx60-0102

 SMD 테스트 클립

Fx60-0201

양면 테스트 키트

Cr60-GP00

 GP-IB 

Cr60-HD00

 Handler 

Cr60-RS00

 RS-232 

Cr60-PR00

 Printer

Of60-ME00

 100 메모리 주소 세트

Of60-DE00

 DEVIATION 보상 에러 정정

시스템 에러 보정 기능 테스트회로

함수 오차 보정 기능

Of60-BN00

정 렬 기 능

 BIN에서 NO. 또는 STEPS 설정된 기준값 및 하한값, Q. D .R. θ

10 BIN 검사 및 BIN 

Of60-JU00

상 하한 판별 기능

기준값 설정 후 설정된 제한값 Q. D. R. 의 하한값, 수율 판별 및 불량품 경고 장치